测试设备,RFID技术无线射频识别技术、RFID系统原理、电子标签原理、读写器设计,RFID中间件介绍等 - RFID技术文库

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测试设备

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射频识别系统在应用过程中由于是通过无线传输实现识别过程，将遇到天线的摆放与标签应用相对方向的情况，在两者相互作用的过程中，由于两者都是天线，都存在极化和方向性问题，都会对系统的作用距离产生极大的影响。与此同时，系统中的天线还受到外界环境的影响，下面将分别进行解读。
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[RFID标签] [其他] 射频识别标签性能测试研究

在实际应用中，RFID系统的应用要综合考虑位置、距离、温度、湿度、干扰等诸多影响系统性能的因素。未经过测试的RFID系统，系统整体性能不明确，可能会影响实际应用效果，甚至打击最终用户对RFID技术本身的信心。不同的无线信号传播方式需要不同的测试设备支持，并且要采用不同的方法。ISO/IEC 18047-3定义了用于物品管理的RFID标签的性能特性的测试方法，规定了标签性能的一般性要求和测试要求。下面对各个具体测试内容进行分析。
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SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂，在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例，在其设计、测试和可制造性等方面进行研究，并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。